天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪EDX2000A 小准直孔 天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪 小准直孔能量色散X荧光光谱仪（全自动微区膜厚测试仪）对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准***，***半导体、芯片及PCB等行业的非***微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维***，双激光定位和保护系统。 应用领域 电镀行业、电子通讯、***新能源、五金卫浴、电器设备 汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等 超高硬件配置 采用Fast-SDD探测器，高达129eV分辨率，能精准地解析每个元素的特征***，针对复杂底材以及多层复杂镀层，同样可以轻松测试。 搭配大功率X光管，能很好的保障***输出和激发的稳定性，***仪器故障率。 高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动，更精准快速地完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。 天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪设计亮点 上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较***光路，***采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，***微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。 软件界面 人性化的软件界面，让操作***更加便捷。 曲线的中文备注，让您的操作更易上手。 仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。